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无源晶振测试电路及晶振布线
无源晶振测试电路及晶振布线
作者: 扬兴科技
日期:2026-07-23
浏览量:
Q:无源晶振测试电路
A:
无源晶振自身无内置振荡驱动,属于被动元器件,需搭配芯片内部振荡单元构成完整谐振回路才能正常起振。
频率检测:设备优先选用频率计、频谱分析仪,二者测频精度高,可精准读取晶振实际输出频率;
波形观测:示波器仅用于查看振荡波形形态、测量波形峰峰值电压,不建议通过示波器读取频率,其测频误差较大,数据参考性差。
Q:3225晶振布线
A:
晶振尽可能紧贴芯片 XTAL_IN、XTAL_OUT 引脚,与 IC 引脚之间走线做到最短,杜绝长引线、过孔绕道;两颗负载电容紧靠晶振引脚放置,电容一端接晶振引脚,另一端就近接地;电容 GND 焊盘不要远距离打孔接地;晶振回路围成的环路面积越小越好(减小辐射、降低外界干扰)。
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